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2019年造價(jià)工程師考試安裝計(jì)量知識(shí)點(diǎn):無(wú)損檢測(cè)(探傷)

2018-12-20 16:45   來(lái)源:建設(shè)工程教育網(wǎng) 字體: 打印 收藏

  2019年一級(jí)造價(jià)工程師考試時(shí)間預(yù)計(jì)在10月下旬,在考試之前建設(shè)工程教育網(wǎng)小編將持續(xù)為考生更新造價(jià)工程師考試知識(shí)點(diǎn)。學(xué)習(xí)是一個(gè)持續(xù)的過(guò)程,牢記知識(shí)點(diǎn)是備考一級(jí)造價(jià)工程師考試的基礎(chǔ),希望能通過(guò)這種日積月累的學(xué)習(xí),幫助大家熟練掌握2019年一級(jí)造價(jià)工程師考試知識(shí)點(diǎn)。

  復(fù)習(xí)造價(jià)工程師考試,需要一點(diǎn)一滴的積累,為了幫大家盡快進(jìn)入備考狀態(tài),網(wǎng)校為大家準(zhǔn)備了造價(jià)工程師考試知識(shí)點(diǎn),真心希望大家可以利用好這些內(nèi)容,為考試打好基礎(chǔ)!

  2019年一級(jí)造價(jià)工程師考試《安裝計(jì)量》知識(shí)點(diǎn):無(wú)損檢測(cè)(探傷),準(zhǔn)備好了嗎?快來(lái)學(xué)習(xí)吧!

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  無(wú)損檢測(cè)(探傷)

  在工業(yè)生產(chǎn)、安裝質(zhì)量檢驗(yàn)中,目前應(yīng)用最廣泛的無(wú)損檢測(cè)方法主要是射線探傷、超聲波探傷、滲透探傷、磁粉探傷和渦流探傷。

  1.射線檢測(cè)(RT)(16)

 ?。?)X射線。X射線由X射線發(fā)射管發(fā)出。探傷的優(yōu)點(diǎn)是顯示缺陷的靈敏度高,特別是當(dāng)焊縫厚度小于30mm時(shí),較γ射線靈敏度高;其次是照射時(shí)間短、速度快。缺點(diǎn)是設(shè)備復(fù)雜、笨重,成本高,操作麻煩,穿透力比γ射線小。

  γ射線。施工探傷都采用放射線同位素作為射線源。γ射線波長(zhǎng)較X射線短,故其射線更硬,穿透力更強(qiáng)。γ射線的特點(diǎn)是設(shè)備輕便靈活,特別是施工現(xiàn)場(chǎng)更為方便,而且投資少,成本低。但其曝光時(shí)間長(zhǎng),靈敏度較低,在石油化工行業(yè)現(xiàn)場(chǎng)施工時(shí)常用。

  (2)中子射線檢測(cè)的獨(dú)特優(yōu)點(diǎn)是使檢驗(yàn)封閉在高密度金屬材料中的低密度材料如非金屬材料成為可能,此方法與X射線法是互為補(bǔ)充的。在某些場(chǎng)合,試件既用X射線又用中子射線做全面的檢測(cè)。

  2.超聲波探傷(UT)

  超聲波探傷與X 射線探傷相比,具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高,對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn)。缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類(lèi)、對(duì)缺陷沒(méi)有直觀性。超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。

  3.渦流檢測(cè)(13、14、16)

  渦流探傷只能檢查金屬材料和構(gòu)件的表面和近表面缺陷。在檢測(cè)時(shí)并不要求探頭與工件接觸,所以這為實(shí)現(xiàn)高速自動(dòng)化檢測(cè)提供了條件。渦流法可以一次測(cè)量多種參數(shù),如對(duì)管材的渦流檢測(cè),可以檢查缺陷的特征,還可以測(cè)量管材的內(nèi)徑、外徑、壁厚和偏心率等。

  渦流探傷的主要優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快,探頭與試件可不直接接觸,無(wú)須耦合劑。主要缺點(diǎn)是只適用于導(dǎo)體,對(duì)形狀復(fù)雜試件難作檢查,只能檢查薄試件或厚試件的表面、近表面缺陷。

  4.磁粉檢測(cè)(MT)

  磁粉檢測(cè)法可以檢測(cè)材料和構(gòu)件的表面和近表面缺陷,對(duì)裂紋、發(fā)紋、折疊、夾層和未焊透等缺陷極為靈敏??蓹z出的缺陷最小寬度約為1um;幾乎不受試件大小和形狀的限制;

  局限性是只能用于鐵磁性材料;只能發(fā)現(xiàn)表面和近表面缺陷,可探測(cè)的深度一般在 1~2mm;寬而淺的缺陷也難以檢測(cè);檢測(cè)后常需退磁和清洗;試件表面不得有油脂或其他能粘附磁粉的物質(zhì)。

  5.液體滲透檢測(cè)(PT)(12、15)

  滲透探傷是檢驗(yàn)非疏孔性金屬和非金屬試件表面上開(kāi)口缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。優(yōu)點(diǎn)是不受被檢試件幾何形狀、尺寸大小、化學(xué)成分和內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的限制,也不受缺陷方位的限制,一次操作可同時(shí)檢驗(yàn)開(kāi)口于表面中所有缺陷;不需要特別昂貴和復(fù)雜的電子設(shè)備和器械;檢驗(yàn)的速度快,操作比較簡(jiǎn)便,大量的零件可以同時(shí)進(jìn)行批量檢驗(yàn),因此,大批量的零件可實(shí)現(xiàn)100%的檢驗(yàn);缺陷顯示直觀,檢驗(yàn)靈敏度高。最主要的限制是只能檢出試件開(kāi)口于表面的缺陷,不能顯示缺陷的深度及缺陷內(nèi)部的形狀和大小。

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  • 考 試 成 績(jī)

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  • 合格證領(lǐng)取

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